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美国仪器NI PXI-2510故障注入单元(FIU)

2015-01-27 11:19 作者:admin 来源:容祺电子 浏览: 字号:

摘要:NI PXI-2510 68通道, 2 A故障注入单元 (FIU) NI PXI-2510故障注入单元(FIU)的设计,适合硬件在环(HIL)应用和电子可靠性测试。每个模块具有一系列馈通通道,在关闭状态下使得开关对于系统是透明的。

NI PXI-2510

NI PXI-2510

68通道, 2 A故障注入单元 (FIU)

NI PXI-2510故障注入单元(FIU)的设计,适合硬件在环(HIL)应用和电子可靠性测试。每个模块具有一系列馈通通道,在关闭状态下使得开关对于系统是透明的。用户可打开或中断连通两条故障总线其中一条的通道,每条故障总线的多路复用器均配备4种可能的输入。

用户可使用这种架构仿真断开或被中断的连接以及管脚之间的短路、针对电池电压的短路和针对各路通道上的对地短路。被NI LabVIEW实时模块控制时,该FIU非常适合验证控制系统的可靠性,如:引擎控制单元(ECU)、全权数字引擎控制器(FADEC),以及更多其它需要

带动高达2A负载的应用。

仿真开路, 管脚间短路 (pin-to-pin), 对电池短路, 对地短路故障

68路通道配有2条故障总线

达2 A和150 V (最大为60 W)

LabVIEW实时的控制, 用于确定性操作

通过PXI背板的触发

(责任编辑:rongqe) 美国仪器NI PXI-2510故障注入单元(FIU)
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