摘要:使用红外热像仪可以瞬间拍摄电子产品表面的温度分布热像图，在软件中对检测的产品进行温度分析、比对，为电子产品控制发热、提高散热效率、提升产品品质提供了一种全新的检测方法。
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近年来电子产品的功能趋于复杂，元器件的品种和数量增加很快，而电子产品的体积确越来越小，这对产品的散热及系统可靠性提出了更高的要求。 目前电子产品的主要失效形式就是热失效。据统计，电子设备失效有百分之五十五是温度超过规定值引起，随着温度增加，电子设备失效率呈指数增长。一般而言电子元器件的工作可靠性对温度极为敏感，器件温度在七十至八十摄氏度水平上每增加1摄氏度，可靠性就会下降百分之五；现在日常使用的手机、平板电脑、笔记本电脑等产品均有可能因整体温度过高而影响正常运行。 以往的温度检测手段是使用温度数据采集器进行温度探头的布点检测，但该方法存在布点效率低、无法检测整体的温度分布、温度反应慢等缺点，而使用红外热像仪可以瞬间拍摄电子产品表面的温度分布热像图，在软件中对检测的产品进行温度分析、比对，为电子产品控制发热、提高散热效率、提升产品品质提供了一种全新的检测方法。 本文以笔记本电脑为例，介绍使用Fluke红外热成像仪对产品的发热情况进行的案例，本文中检测的电子产品，仅显示在不同状态下的温度数据，而不对其性能及其他方面做出评论。 案例一：ThinkPad X1 Carbon笔记本电脑温度检测 测试工具：Fluke Ti32红外热像仪 1、开机状态持续10分钟
开机10分钟后，整个操作区平均温度34.1℃，温度在左侧风口出略高，其余部分温度在32-33℃。 机身底部温度略有升高，在关键部件集中的中间靠上部位温度39.1℃，X1 Carbon底部新增的风口处温度较高。 2、浏览网页半小时
3、观看高清电影半小时
4、软件跑分40分钟
总结：Fluke红外热像仪除了快速拍摄电子产品表面的温度分布外，还可以通过软件对检测区域进行温度分析，直观、准确地反映出产品的发热状态和散热效果，为产品的质量保证提供科学的依据。 (责任编辑：rongqe)
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